這個(gè)是不一定需要的，盡量將每次校準的state存 入VNA，名字為校準狀態(tài)，例如頻率范圍，輸入激勵功率等。如果有新的測試項目，但是它的測試條件和已有狀態(tài)相似，且load state后，檢查校準狀態(tài)良好，就可用使用以前的校準狀態(tài)，而不需要重新校準。將校準state保存并調用的好處在于：Calibration Kit也是有使用壽命的，多次的校準，會(huì )是的校準件多次和校準電纜接觸，可能污染校準件，使得校準件特性發(fā)生改變，影響下一次校準。盡量養成如下習慣：將 網(wǎng)絡(luò )分析儀的port不用的時(shí)候加上防塵套;對測試電纜進(jìn)行標號，使得VNA每個(gè)port盡可能固定連接某個(gè)電纜;對測試電纜不用時(shí)，也需要加上防塵套; 盡量不用很臟的測試電纜等。

　　以單端口DUT測量為例，測試模型參考one port error model。

　　由 于VNA的輸出和DUT的待測輸入一般都存在中間過(guò)渡件/連接件，使得理想網(wǎng)絡(luò )分析儀的測試平面和DUT的待測平面間出現了一個(gè)誤差網(wǎng)絡(luò )。對于單端口誤差模型，有三個(gè)誤差項。為了求解三個(gè)誤差項，由線(xiàn)性矩陣理論，需要建立三個(gè)不相關(guān)的方程來(lái)求解。校準的原理就是建立這三個(gè)方程。

　　通過(guò)在測試面加入三個(gè)已知特性的校準件，例如開(kāi)路件，反射系數理論上為1，短路件，反射系數理論上為-1，負載件反射系數理論上為0。通過(guò)VNA測量這三個(gè)校準件，得到實(shí)際測量結果。也就得到包含三個(gè)誤差模型的線(xiàn)性方程，通過(guò)求解就能得到三個(gè)誤差項。在后續的測量中，在直接獲得的測試結果中，先通過(guò)數學(xué)運算，消除三個(gè) 誤差項帶來(lái)的影響，顯示給用戶(hù)的就是校準后DUT的特性。

　　當然兩端口誤差模型更加復雜，分為正向和反向，正向具有6個(gè)誤差項，反向也有6個(gè)誤差項，總共有12個(gè)誤差項需要求解，求解方法可用參考"RF Measurement of Die and Packages"

　　當然一般網(wǎng)絡(luò )分析儀提供的二端口矢量校準方法為SOLT，通過(guò)單端口的分析，其實(shí)校準件的本質(zhì)是建立誤差模型方程，選擇不同已知反射系數的校準件，就得到了很多不同的校準方法，例如LRM，LRRM，TRL等等。

　　當然校準的本質(zhì)也是去嵌入(De-embedding)的過(guò)程，去嵌入的本質(zhì)得到誤差網(wǎng)絡(luò )的S參數，通過(guò)轉換到T參數，運用級聯(lián)運算進(jìn)行消除。去嵌入還能夠消除非傳輸線(xiàn)網(wǎng)絡(luò )的S參數，應用也比校準廣泛。